FastLab™

디바이스 파라미터 측정 소프트웨어 FastLab™

반도체 소자 IV/CV 특성 측정 솔루션

카테고리:

설명

Features

FastLab™은 반도체 실험실에서 계측기를 제어하여 소자의 IV 및 CV 특성을 측정하는 소프트웨어입니다. MeQLab 또는 기타 분석 장비로 데이터 출력을 수행하여 완벽한 모델링 플랫폼을 구성할 수 있습니다. 친숙한 인터페이스, 간편한 조작 및 종합적인 기능은 물론, 첨단 기계 학습 알고리즘으로 경쟁사 제품보다 2-3 배 더 빠른 성능을 제공합니다.

Device Supported
  • Mosfet / MosSOI / BJT
  • Diode / Capacitor / Resistor
Applications
  • 웨이퍼 매핑: 인터페이스가 간단하고 친숙하므로 웨이퍼 측정 계획을 신속하게 개발하고 측정 결과를 볼 수 있습니다. 서브 다이 편집, 서브 다이 측정 내용 설정, 다이 및 소자 선택 제작
  • 스트레스 측정 지원
  • 프로브와 상호 작용하여 서브 다이 설정 수정 및 웨이퍼 측정 계획 설정을 할 수 있고, 측정 진행 및 결과에 대한 실시간으로 점검합니다.
  • 내장된 종합 IV/CV/Spec 측정 루틴을 사용하면 일부 간단한 복사 및 수정 단계만으로 측정 작업을 수행 할 수 있습니다.
  • 고도로 통합된 인터페이스, 미터, 매트릭스, 프로브 설정 및 관리가 쉬우며 루틴을 통해 다양한 소자 유형의 측정 내용을 구성할 수 있습니다. 모든 설정을 하나의 버튼으로 내보내고 가져올 수 있습니다.
  • 다양한 소자 및 다른 페이지에서 측정에 소요된 시간을 자세하게 보여주는 풍부한 로그 정보.
  • 강력한 차트 보기, 오버레이 및 출력 보고서 기능은 WAT 친화적인 Excel 형식을 출력할 수 있어 이후 데이터 처리에 편리합니다.
Instrument Supported
  • Meter: FS360/FS380/B1500/HP4284/HP4156/E4980
  • Matrix: K707/E5250A/B2200
  • Prober: Cascade Semi-Auto PA300/S300
Datasheets
  • OS: Windows XP, Windows 7, Windows 8
  • Recommended Hardware: Pentium 4 CPU and above, 1G ram (2G ram preferred)

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